בדיקות ניגוב לזיהום מולקולרי, חלקיקים וסיבים

בדיקות חלקיקים וספירת סיבים בחדרים נקיים מודדות חלקיקים הנישאים באוויר, סיבים ופליטות אחרות ממגבונים דלי סיבים, טקסטיל או חומרים אחרים בחדרים נקיים.

שיטות בדיקת חלקיקים מתארות את החילוץ והספירה של חלקיקים וסיבים המשתחררים ממגבים (או מחומרים אחרים) במצב רטוב, בתנאים של לחץ מכני בינוני.

קישורים מהירים להערכת מגבונים לחדר נקי

— חלקיקים | שיטות בדיקת סיבים

— זיהום יוני, מתכות קורט וזיהום מתכות כבדות

שאריות לא נדיפות – NVR – בחדרים נקיים

— בדיקות מיקרוביולוגיות ובדיקות פירוגניות

— פרופילים עבור ניקוי ואלקטרוניקה של מכשור רפואי

— תקני בדיקת ניגוב עבור ארגוני ASTM, IEST ו-ISO

ספירת חלקיקים נוזליים (LPC) בדיקת חלקיקים במגבים

תיאור הבדיקה: שחרור חלקיקים ממגבים וחומרים אחרים בתנאים של לחץ מכני מתון

הכנת דגימה עבור מכשירי ספירת חלקיקים או ספירות מיקרוסקופיות מתחילה בחדר נקי בתקן ISO 5. סביבה מבוקרת מונעת מזיהום חיצוני לייצר תוצאות חיוביות שגויות. הסביבה דומה לזו הנדרשת להליכים סטריליים. מכסה מנוע זרימה למינרית מכוון אוויר מסונן HEPA החוצה מעל משטח העבודה ומסיר מזהמים זעירים מאזור העבודה.

כאשר רמת הריכוז הממוצעת (LPC) מוגדרת כפי שתואר לעיל, היחידה תמשוך 10 מ"ל נוזל מהכוס (באמצעות מערכת דגימת הנוזלים שהיא חלק מה-LPC) ותקבע את ריכוז החלקיקים. היחידה תחזור על תהליך זה שלוש פעמים נוספות. התוכנה תבטל את הקריאה הראשונה ותחשב את ממוצע התוצאות השנייה, השלישית והרביעית ותדווח על חלקיקים מצטברים ודיפרנציאליים לכל מ"ל עבור כל טווחי הסף (הערוץ) שנקבעו.

טקסווייפ TM22 6.2

מוני חלקיקים נוזליים (LPC) מזהים אור המפוזר על ידי חלקיקים קטנים. לאחר מכן האור הופך לאות חשמלי. חלקיקים סופגים אור, מה שמאפשר למכונה לזהות חלקיקים על ידי הסקת אורך הגל המוחזר של הלייזר וגיאומטריית האור.

מגבלות מונה חלקיקים נוזליים

מבחינה היסטורית, המגבלות של ציוד לבדיקת חלקיקים הגבילו את ספירת החלקיקים הנוזליים ל-10,000 חלקיקים לכל מ"ל בסך הכל. דגימות המכילות ספירת חלקיקים גדולה יותר דרשו דילולים מתאימים.

כיצד ספירת מיקרוסקופ סופרת חלקיקים

מיקרוסקופ אלקטרונים סורק מאפשר ספירת דגימות לאחר ערבוב וערבוב של דגימה באמצעות שיטות הניעור הדו-ציריות המתוארות ב-IEST-RP-CC004. הדגימה מסוננת ומיובשת לפני הערכת ספירת הסיבים תחת מיקרוסקופ אופטי.

השימוש במטרולוגיה של SEM לספירת חלקיקים מספק שיטה רגישה מספיק כדי להבחין בדיוק רב במספר החלקיקים המשתחררים במהלך הכנת הדגימה.3–5 עם זאת, השאלה היא כיצד להכין דגימות בדיקה באופן שדומה מאוד לתנאי השימוש בפועל מזמינה מחקר נוסף.

הערכת טכניקות הכנת דגימות לבדיקת מגבונים בחדר נקי 1997

שיטת בדיקה 1.2) כימות סיבים מתבצע בשני טווחים: 20 – 100 מיקרומטר ו- > 100 מיקרומטר. לאחר החילוץ, הסיבים נלכדים על נייר סינון משורשר, נותנים להם להתייבש ולאחר מכן סופרים תחת מיקרוסקופ אופטי. שיטת בדיקת Texwipe (TN22)

האתגר של בדיקה זו הוא שמירה על מערכת מיצוי טהורה במיוחד.

שיטת בדיקה 6.1): אם החלקיקים אינם מפוזרים באופן אחיד על פני השטח המסנן של המסנן, יש להכין דגימה חדשה. אחידות של פיזור החלקיקים על פני המסנן היא חובה לכימות מדויק. שיטת בדיקת Texwipe (TN22)

טכניקת מדידה מבוססת מיקרוסקופ לספירת חלקיקים וסיבים נוזליים

תיאור הבדיקה: בדיקה מקיפה של חלקיקים וסיבים עבור מגבים לחדרים נקיים נובמבר/דצמבר 1998

מיקרוסקופים אלקטרוניים מאפשרים ספירה של חלקיקים שלא ניתן היה לזהות אחרת באמצעות מכשיר LPC להערכת ספירת חלקיקים נוזליים, או APC המשמש לספירת חלקיקים הנישאים באוויר.

בדיקות זיהום חדשניות של מגבונים מספקי PAC כמו Texwipe מציגות שיטות משופרות לספירת ספירת חלקיקים וסיבים בהכנת דגימה אחת.

ההליך משתמש בהכנת דגימה אחת לספירת כל הגדלים, ובכך מבטל את הצורך בהכנות דגימה נפרדות עבור חלקיקים וסיבים. ההכנה כוללת טבילה וערבול של מגב בנוזל ניקוי בעל מתח פנים נמוך וסינון הנוזל העמוס בחלקיקים דרך מסנן ממברנה מיקרופורוסי.

לאחר מכן, המסנן מורכב על בדל מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM) ונבדק תחילה לאחידות ההתפלגות באמצעות מיקרוסקופ אופטי. לאחר קביעת האחידות, נספרים גם סיבים גדולים בשלב זה. בדל הדגימה מועבר לאחר מכן ל-SEM, וחלקיקים בקטגוריות גודל שונות נספרים בהגדלות שונות. הדיוק והדיוק של הספירות המתקבלות נמדדים סטטיסטית.